Andmekeskused on olemas selleks, et tagada andmetöötluse turvalisus ja järjepidevus.Vaid viimase kolme aasta jooksul on aga juhtunud üle kümne andmekeskuse rikke ja katastroofi.Andmekeskuse süsteemid on keerulised ja neid on raske ohutult kasutada.Viimase aja ekstreemsed ilmastikuolud ja tehnoloogia areng on toonud uusi väljakutseid ka andmekeskuste suurele töökindlusele.Kuidas peaksime ennetama ja reageerima?
Andmekeskuse rike "Vanad näod"
Lihtne on tõdeda, et toitesüsteem, jahutussüsteem ja käsitsijuhtimine on kõige levinumad tegurid, mis põhjustavad andmekeskuse rikke.
Juhtmete vananemine
Traadi vananemine põhjustas tulekahju, mida tavaliselt nähakse vanades andmekeskustes, Korea SK andmekeskuse tulekahju on tingitud juhtme tulekahjust.Liini rikke peamine põhjus on vanadus + kuumus.
Vanadus: Traadi isolatsioonikihi normaalne kasutusiga on 10–20 aastat.Kui see vananeb, võib see kahjustada ja isolatsiooni jõudlus väheneb.Vedeliku või kõrge õhuniiskusega kokku puutudes on kerge tekitada lühist ja tulekahju.
Kuumus: Joule'i seaduse järgi tekib soojus, kui koormusvool läbib traati.Andmekeskus töötab 24 tundi toitekaabli pikaajalise suure koormusega töökorras, kõrge temperatuur kiirendab kaabli isolatsiooni vananemist, isegi lagunedes.
UPS/aku rike
Telstra Ühendkuningriigi andmekeskuse tulekahju ja Pekingi posti- ja telekommunikatsiooni ülikooli andmekeskuse tulekahju põhjustasid aku rike.
Aku/UPS-i rikke peamised põhjused andmekeskuses on liigne tsükliline tühjenemine, lahtine ühendus, kõrge temperatuur, kõrge ujuki/madal ujuklaadimise pinge jne.Pliiaku eluiga on tavaliselt 5 aastat, liitium-ioonaku eluiga umbes 10 aasta pärast, aku kasutusea pikenemisega väheneb selle jõudlus ja suureneb ka rikete määr.Hoolduse ja ülevaatuse järelevalve võib põhjustada tõsiseid tagajärgi, kuna aegunud akut ei vahetata õigeaegselt.
Andmekeskuse akude suure arvu, seeria- ja paralleelkasutuse tõttu levib aku rike pärast tulekahju ja plahvatust, põhjustades suure katastroofi.Liitiumpatareide plahvatusoht on suurem kui pliiakudel ja tulekustutus on keerulisem.Näiteks 2021. aastal Pekingis Fengtai rajoonis Xihongmeni energiasalvestises elektrijaamas toimunud plahvatuse põhjustas liitiumraudfosfaatpatarei sisemine lühis, mis põhjustas aku termilise rikke süttimise ja levimise ning seejärel plahvatas elektrisädeme korral.See on viimaste aastate peamine mureallikas liitiumioonakude rakendustes.
Külmutamise rike
Olenemata sellest, kas jahutuse rike või madal jahutustõhusus on põhjustatud kompressorist, kaitseklapist või vee väljalülitamisest, põhjustab see ruumi temperatuuri tõusu, mis mõjutab seadmete jõudlust, kui õigeaegselt ei ravita, toatemperatuur jätkab tõusmist või ülekuumenemise tõttu. katkestus, põhjustab see teenuse katkestust, riistvarakahjustusi ja andmete kadumist.
Newsunn pakub andmekeskuses turvalise lahenduse PDU-sid koos igat tüüpi funktsioonimoodulitega.Võtke meiega kohe ühendust ja kohandage oma andmekeskuse PDU-d.Meil onC13 lukustatav PDU, rack mount liigpingekaitse PDU,3-faasiline IEC ja Schuko PDU kogumõõtmisega, jne.
Postitusaeg: aprill-06-2023